用四探针法测定半导体在不同温度下的电阻率和带隙的测定(高级模型)
四探针装置,用于测量温度高达200ºC的极低至高电阻样品的电阻率,采用PID控制烘箱(研究模型)
四个探头测量设置,用于广泛的电阻率样品--190°C至200°C温度
用于绘制大样本电阻率的四探针装置(映射模型)
半导体磁阻测量
不同样品的磁电阻测量
铋的磁电阻测量
不同温度下绝缘子电阻率测量的两个探头方法
用USB、计算机连接模块和软件测量不同温度下绝缘子电阻率的双探针法
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