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物理实验室设备和培训师
  • 订购代码:55531A 用四探针法测定半导体在不同温度下的电阻率和带隙的测定(高级模型)

    用四探针法测定半导体在不同温度下的电阻率和带隙的测定(高级模型)

  • 订购代码:55531B. 四探针装置,用于测量温度高达200ºC的极低至高电阻样品的电阻率,采用PID控制烘箱(研究模型)

    四探针装置,用于测量温度高达200ºC的极低至高电阻样品的电阻率,采用PID控制烘箱(研究模型)

  • 订购代码:55531C. 四个探头测量设置,用于广泛的电阻率样品--190°C至200°C温度

    四个探头测量设置,用于广泛的电阻率样品--190°C至200°C温度

  • 订购代码:55531D 用于绘制大样本电阻率的四探针装置(映射模型)

    用于绘制大样本电阻率的四探针装置(映射模型)

  • 订购代码:55532 半导体磁阻测量

    半导体磁阻测量

  • 订购代码:55532A 不同样品的磁电阻测量

    不同样品的磁电阻测量

  • 订购代码:55532B 铋的磁电阻测量

    铋的磁电阻测量

  • 订购代码:55533 不同温度下绝缘子电阻率测量的两个探头方法

    不同温度下绝缘子电阻率测量的两个探头方法

  • 订购代码:55533A 用USB、计算机连接模块和软件测量不同温度下绝缘子电阻率的双探针法

    用USB、计算机连接模块和软件测量不同温度下绝缘子电阻率的双探针法



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